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- William A. McGahan; Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry; John Wiley & Sons, 1999. Harland G. Tompkins, A user’s guide to Ellipsometry; Academic Press…8 kB (1201 palabras) - 12:02 4 sep 2023
- Metrology for Directed Self-assembly Patterning Using Mueller Matrix Spectroscopic Ellipsometry Based Scatterometry." ProQuest Dissertations and Theses Global…13 kB (1776 palabras) - 19:30 22 ene 2024
- W.; Van De Sanden, M C M.; Kessels, W M M. (2009). «In situ spectroscopic ellipsometry as a versatile tool for studying atomic layer deposition». Journal…57 kB (6830 palabras) - 03:46 12 abr 2024